Antistatic दस्ताने के लिए परीक्षण मानकों और परीक्षण प्रक्रियाओं
विरोधी स्थैतिक दस्ताने विशेष विरोधी स्थैतिक दस्ताने से बने होते हैं। उपयोग की जाने वाली सामग्री नायलॉन और प्रवाहकीय फाइबर हैं। फाइबर के बीच की दूरी 4 मिमी है। इसमें मजबूत लोच और विरोधी स्थैतिक गुण हैं। यह मानव शरीर द्वारा उत्पन्न स्थिर बिजली से बचाता है। नुकसान का कारण बनें और एक साफ कमरे में इस्तेमाल किया जा सकता है।
Antistatic दस्ताने के लिए, परीक्षण विधियों और परीक्षण मानकों बहुत महत्वपूर्ण हैं। परीक्षण के दौरान बहुत से उपकरणों का उपयोग किया जाएगा। परीक्षण के लिए मेगोहमेटर्स की दो श्रेणियां हैं, 100V और 10V (± 5%), जिनमें से 100V का उपयोग ≧ 1X106 ohms और 10V का परीक्षण करने के लिए किया जाता है <1x106 ohms="" का="" परीक्षण="" करने="" के="" लिए="" किया="" जाता=""> उसी समय, आपको एक विरोधी स्थैतिक कलाई का पट्टा, एक धातु प्लेट, और एक स्थिर वोल्टमीटर की आवश्यकता होती है।
परीक्षण कुछ प्रक्रियाओं के अनुसार किया जाना चाहिए। विशिष्ट प्रक्रियाएं निम्नानुसार हैं:
1. निरीक्षण के समय तापमान और आर्द्रता की स्थिति हैं: तापमान: 23 ± 3oC, सापेक्ष आर्द्रता: 40% -60% ± 5%।
2. जांच करें कि परीक्षण के तहत डिवाइस और मेगर इलेक्ट्रोड स्वच्छ हो सकता है या नहीं। यदि आवश्यक हो, तो 70% आइसोप्रोपॉल अल्कोहल के साथ एक मुलायम कपड़े से साफ करें।
3. पहले निरीक्षण और निरीक्षण के समय, कम से कम छह उत्पाद नमूने परीक्षण किए जाने की आवश्यकता है।
4. दस्ताने के बाहरी प्रतिरोध की जांच करें। नमूना को इन्सुलेशन बोर्ड पर परीक्षण करने के लिए रखें, और उसके बाद दस्ताने की बाहरी सतह पर मेगोहम्मेटर का इलेक्ट्रोड रखें। इलेक्ट्रोड नमूना से अधिक नहीं है।
5. इलेक्ट्रोड स्थापित होने के बाद, विरोधी स्थैतिक दस्ताने का परीक्षण करते समय, जांच करने के लिए मेगोह्मीटर की 10V फ़ाइल का उपयोग करें। अगर पठन <1.0x107 ओम="" है,="" तो="" निरीक्षण="" जारी="" रखने="" के="" लिए="" इस="" फ़ाइल="" का="" उपयोग=""> यदि पठन है> 1.0X107 ओम, निरीक्षण के लिए 100V फ़ाइल का उपयोग करें। । पढ़ने के बाद स्थिर है, पढ़ने को रिकॉर्ड करें और इसे जांचें।
6. अन्य नमूनों की जांच के लिए एक ही चरण का प्रयोग करें। बाहरी प्रतिरोध का विशिष्टता: ≥1.0X105 ohms <1.0x109>
विरोधी स्थैतिक दस्ताने के लिए, सटीक डेटा केवल परीक्षण प्रक्रिया के अनुसार सख्ती से परीक्षण करके मापा जा सकता है। केवल कार्य प्रक्रिया में इलेक्ट्रॉनिक उत्पादों और चिप्स के नुकसान से बचने के लिए।